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    YT-H2E 薄膜电脑厚度测定仪

    电脑薄膜测厚仪是薄膜厚度测定的专用仪器,广泛适用于片状材料厚度测定;是包装、科研及产品质量监督检验等行业和部门理想的试验设备。

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    产品概述


    产品特性.jpg

    l 一键测试,简单易懂

    l ARM处理器,提高了仪器的响应速度,计算精确快速

    l 测头上升下降速度可调

    l 突然断电数据保存功能,开机后断电前的数据保留并可继续测试。

    l 自动测量、统计、打印测试结果

    l 可配合微机软件进行通讯(另购)


    执行标准.jpg

    GB/T 451.3,QB/T 1055,GB/T 24328.2,ISO 534,GB/T 6672

    技术参数



    序号

    参数项目

    技术指标

    1

    电源电压

    AC(100~240)V,(50/60)Hz 50W

    2

    工作环境

    温度(10~35)℃,相对湿度 ≤ 85%

    3

    显示                

    7寸彩色触摸显示屏           

    4

    测量范围

    (0~4)mm

    5

    分辨率

    0.0001mm

    6

    示值误差

    ±1um

    7

    示值变动性

    ±1um

    8

    接触面积

    50 mm²

    9

    接触压力

    (17.5±1)kPa

    10

    测头下降速度

    (0.5~10)mm/s可调

    11

    打印

    热敏打印机

    12

    通信接口

    RS232(默认) (USB,WIFI选配)

    13

    外形尺寸            

    365×255×440 mm

    14

    仪器净重

    约27kg


    联系我们

    0571-88013885

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